Phase detection limits in off-axis electron holography from pixelated detectors: gain variations, geometric distortion and failure of reference-hologram correction - Interférometrie In-situ, Instrumentation pour la Microscopie Electronique Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microscopy (Oxf) Année : 2021

Phase detection limits in off-axis electron holography from pixelated detectors: gain variations, geometric distortion and failure of reference-hologram correction

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Instrumentations et Détecteurs [physics.ins-det] Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
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https://hal.science/hal-03001935

Soumis le : lundi 15 novembre 2021-10:26:08

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15

Archivage à long terme le : mercredi 16 février 2022-19:41:49

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Dates et versions

hal-03001935 , version 1 (15-11-2021)

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Citer

Martin Hÿtch, Christophe Gatel. Phase detection limits in off-axis electron holography from pixelated detectors: gain variations, geometric distortion and failure of reference-hologram correction. Microscopy (Oxf), 2021, Electron Interference Microscopy, 70 (1), pp.47. ⟨10.1093/jmicro/dfaa044⟩. ⟨hal-03001935⟩

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