Out-of-year corn yield prediction at field-scale using Sentinel-2 satellite imagery and machine learning methods - Département MathNum Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Computers and Electronics in Agriculture Année : 2023

Out-of-year corn yield prediction at field-scale using Sentinel-2 satellite imagery and machine learning methods

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Johann Desloires, Dino Ienco, Antoine Botrel. Out-of-year corn yield prediction at field-scale using Sentinel-2 satellite imagery and machine learning methods. Computers and Electronics in Agriculture, 2023, 209, pp.107807. ⟨10.1016/j.compag.2023.107807⟩. ⟨hal-04087506⟩

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