Mapping soil thickness on heterogeneous bedrock using electric and electromagnetic survey
Cartographie de l’épaisseur des sols sur substrat hétérogène : approche par méthodes électriques et électromagnétiques
Abstract
Owing to the automation of the measurements, geophysics is now commonly used to predict soil thickness over large areas in addition to punctual information given by soil augering. Among the various geophysical tools, the methods based on electrical resistivity measurements give good results providing that the bedrock is homogeneous. In this study we use electric and electromagnetic methods to map soil thickness over an area with heterogeneous bedrock. Geostatistical analysis allows eliminating the bedrock variability influence. The most efficient predictions are obtained when integrating topographic slope to the resistivity data.
Avec l'automatisation des mesures, la géophysique est de plus en plus utilisée pour prédire l'épaisseur des sols sur de grandes surfaces, en complément des informations ponctuelles fournies par les sondages pédologiques. Parmi les différentes méthodes, les prospections basées sur la mesure de la résistivité électrique donnent de bons résultats lorsque le substrat est homogène. Dans cette étude nous testons l'utilisation des méthodes électriques et électromagnétiques pour cartographier l'épaisseur du sol sur substrat hétérogène. Un traitement géostatistique des données permet de s'affranchir de l'influence de la variabilité du substrat. Les meilleurs résultats sont obtenus en intégrant aux mesures de résistivité la pente topographique.
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