Article Dans Une Revue
Journal of Trace and Microprobe Techniques
Année : 1999
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https://hal.inrae.fr/hal-02693653
Soumis le : lundi 1 juin 2020-07:47:11
Dernière modification le : lundi 26 août 2024-14:47:34
Citer
N. Grignon, J. Jeusset, E. Lebeau, C. Moro, Alain Gojon, et al.. SIMS localization of nitrogen in the leaf of soybean: basis of quantitative procedures by localized measurements of isotopic ratios. Journal of Trace and Microprobe Techniques, 1999, 17 (4), pp.477-490. ⟨hal-02693653⟩
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