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Conference papers

Comparaison des modes d'imagerie fond noir TEM et STEM pour l'observation de structures moléculaires

Résumé : Une façon de minimiser les agents lourds des contrastants chimiques et d’observer les cellules proche de leur état natif, même en utilisant la procédure classique du fixateur chimique, est d'augmenter le contraste de diffraction ou le contraste de diffusion pour l’imagerie. A titre d'exemple, dans le domaine particulier des polymères, le mode fond noir haute résolution (DF-HRTEM) a permis d'observer les unités structurales de monomères [1]. De plus, comme le montre l’étude quantitative STEM [2] sur des échantillons biologiques, les contrastes STEM sont corrélés à la chimie des phases ce qui permet d'identifier la présence et l'emplacement des composants moléculaires dans une cellule, comme l'ADN, protéines, lipides, complexes nucléoprotéiques etc ... Nous voulons étudier les composants de la structure des cellules au niveau moléculaire en utilisant des modes conventionnels et non conventionnels. Nous présentons les résultats d'une étude comparative TEM et STEM sur cellulehumaine Hela, en utilisant les modes d'imagerie STEM fond noir (ADF, HAADF) et TEM fond noir haute résolution (DF-MEHR). Les modes d'imagerie STEM donnent des informations de la structure, à partir de la diffusion des électrons (ADF), et de la chimie locale à l'échelle atomique ou moléculaire (HAADF). Le mode fond noir DF-MEHR en TEM donne des informations structurales combinant le contraste de phase et le contraste d'amplitude comparable aux conditions d'imagerie haute résolution HRTEM, mais en utilisant le contraste minimum de défocalisation de l’objectif. Nous voulons aussi tester la limite de résolution des informations pour l'analyse d'imagerie cellulaire, en utilisant la nouvelle génération de microscopes TEM / STEM équipé de canon à émission de champ et de correcteurs d'aberration. Différents microscopes TEM et STEM ont été utilisés pour cette étude. Le mode d'imagerie en fond noir haute résolution (DF-HRTEM) a été réalisé sur un Zeiss 912 (120KeV), Hitachi HU12A (75KeV), et un CM20 FEG Twin (120KeV). Les modes d’imagerie STEM HAADF et ADF ont été réalisés avec deux types de TEM / STEM: Tecnai F20(200 keV) équipé d'un FEG Schottky et un correcteur de Cs Image (TEM résolution 0.12nm), un microscope Jeol2200FS équipé d'un FEG Schottky et un Correcteur Cs de la sonde Céos (0.1nm résolution STEM) et enfin avec l'aide d'un microscope Hitachi SEM en mode STEM HAADF en basse tension (30 keV). Les observations ont été réalisées sur des cellules humaines HeLa enrobées dans l'épon, contrastées et non contrastées, (acétate d'uranyle 2%), dans le bloc de préparation des échantillons ou déposé sur le support de grille de carbone, avec ou sans citrate de plomb). Les résultats de ces modes d'imagerie en fond noir seront présentés en soulignant leur contribution spécifique dans le contenu de l'imagerie moléculaire des cellules (contraste de l'image, résolution de l'information) et comparés au mode classique avec contrastant chimique.References[1] A. Oberlin, J. Ayache and M. Guigon, Journal of Polymer Science. vol. 20, p.579 (1982).[2] E. Kellenberger, E. carlemalm, W. Villigier, M. Wurtz, C. Mory and C. Colliex. In Annals NewYork academy of Sciences. 483, 202-228 (1986).[3] This research was supported by RCCM the national network belonging to MRCT of CNRS and also by METSAthe national microscopy CNRS network.
Document type :
Conference papers
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https://hal.inrae.fr/hal-02810543
Contributor : Migration Prodinra <>
Submitted on : Saturday, June 6, 2020 - 8:34:48 AM
Last modification on : Wednesday, July 21, 2021 - 2:56:51 PM

Identifiers

  • HAL Id : hal-02810543, version 1
  • PRODINRA : 166641

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Citation

J. Ayache, D. Jaillard, B. Payre, Christine Péchoux, Florent Houdellier, et al.. Comparaison des modes d'imagerie fond noir TEM et STEM pour l'observation de structures moléculaires. 47. Journées du GUMP, Société Française des Microscopies (SFµ). Paris, FRA., May 2011, Guadeloupe, France. 1 p. ⟨hal-02810543⟩

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